(812) 346-07-79

ВОИС и ФИПС проводят совместный международный семинар по товарным знакам и промышленным образцам

« Назад

ВОИС и ФИПС проводят совместный международный семинар по товарным знакам и промышленным образцам 09.06.2013 05:36

Всемирная организация интеллектуальной собственности (Женева) и Федеральный институт промышленной собственности (Москва) проводят двухдневный международный семинар на тему «Использование Мадридской системы для международной регистрации товарных знаков и гаагской системы для международной регистрации промышленных образцов».

Место проведения семинара: Санкт-Петербургская торгово-промышленная палата
Дата: 13 июня - 14 июня 2013 года
Время: с 09:00 до 18:00  
Адрес: ул. Чайковского, 46-48

Темы, заявленные на семинаре:

"Охрана товарных знаков в Российской Федерации", "Мадридская система международной регистрации знаков и роль Международного бюро ВОИС", "Роль РОСПАТЕНТа, как ведомства происхождения и ведомства указанной страны в рамках Мадридской системы", "Управление международной регистрацией и преимущества использования Мадридской системы", "Использование товарных знаков и Мадридской системы в бизнес-стратегии", "Национальная система охраны промышленных образцов", "Истоки и основные принципы Гаагской системы", "Международная охрана промышленных образцов. Интерфейс электронной подачи".

Докладчики:

Лариса Бородай, заместитель заведующего отделом заявок на товарные знаки (Роспатент, Москва), Антонина Стоянова, советник, Мадридский реестр (ВОИС, Женева), Людмила Иванова, главный эксперт отдела промышленных образцов (Роспатент, Москва), Михаил Фалеев, советник по информации, Гаагский реестр (ВОИС, Женева).

По окончании семинара участники получат соответствущее Свидетельство.